*品質(zhì)易福門(mén)IFM電容式接近傳感器

電容式接近開(kāi)關(guān)簡(jiǎn)介：
電容式接近開(kāi)關(guān)亦屬于一種具有開(kāi)關(guān)量輸出的位置傳
感器，它的測量頭通常是構成電容器的一個(gè)極板，而
測，包括導體、半導體、絕緣體，甚至可以用于檢測
液體和粉末狀物料。對于非金屬物體，動(dòng)作距離決定
另一個(gè)極板是物體的本身，當物體移向接近開(kāi)關(guān)時(shí)，
相連的電路狀態(tài)也隨之發(fā)生變化，由此便可控制開(kāi)關(guān)
的接通和關(guān)斷。電容式接近開(kāi)關(guān)對任何介質(zhì)都可以檢
物體和接近開(kāi)關(guān)的介電常數發(fā)生變化，使得和測量頭
于材質(zhì)的介電常數，材料的介電常數越大，可獲得的
動(dòng)作距離越大。

構造說(shuō)明：
電容式接近開(kāi)關(guān)這種開(kāi)關(guān)的測量通常是構成電容器的
一個(gè)極板，而另一個(gè)極板是開(kāi)關(guān)的外殼。這個(gè)外殼在
量發(fā)生變化，使得和測量頭相連的電路狀態(tài)也隨之發(fā)
生變化，由此便可控制開(kāi)關(guān)的接通或斷開(kāi)。這種接近
測量過(guò)程中通常是接地或與設備的機殼相連接。當有
接近，總要使電容的介電常數發(fā)生變化，從而使電容
物體移向接近開(kāi)關(guān)時(shí)，不論它是否為導體，由于它的
開(kāi)關(guān)檢測的對象，不限于導體，可以絕緣的液體或粉
狀物等。

*品質(zhì)易福門(mén)IFM電容式接近傳感器